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  • Linseis致力于為全球熱分析儀器的客戶提供產品支持和技術服務。

     林賽斯作為一家專業的熱分析儀器廠家,不只是研發、制造儀器,我們也與熱分析相關用戶緊密合作,關注材料熱物性分析的前沿發展。

     憑借對熱分析特定應用領域的專業知識,Linseis 技術顧問與科學家和實驗室研究人員展開合作。我們評估、開發和提供從樣品前處理到最終報告的工作流程,無論您是過渡至新系統、改善現有系統還是運行現有的解決方案都適用。我們可協助儀器選購、儀器更新換代,以滿足不斷變化的實驗室需求。我們在熱分析領域提供專業的技術服務支持與應用合作。



    DIL–膨脹測量
    測定-150°C和1750°C之間的熱膨脹系數和熱膨脹系數
    根據ASTM D 696、E 228、E 831、E 1363、E 1545、E 1824、DIN 53752


    DSC-差示掃描量熱法
    在-150°C至1550°C范圍內測量焓、相變和比熱容(Cp)
    根據ASTM C 351、D 3417、D 3895、D 4565、E 793、E 794、DIN 51004、51007、53765、65467、DIN EN 728、ISO 10837、11357、11409


    TGA-熱重分析
    RT至1550°C之間質量變化/分解殘留物的測量
    根據ASTM E 914、E 1131、E 1868、DIN 51006、ISO 7111、11358


    STA–同步熱分析
    同時測量TG和DSC測定RT和1550℃之間的質量變化和量熱效應
    根據ASTM E 914、E 1131、E 1868、DIN 51006、ISO 7111、11358


    LFA–激光閃射分析
    在室溫和1500℃之間測量熱擴散率、熱導率和比熱容
    根據ASTM E 1461、DIN 30905、DIN EN 821


    THB–瞬態熱橋測量
    RT至150°C之間導熱系數的測量

    HFM–熱流法導熱儀
    測量5°C至80°C之間絕緣子和絕緣材料的熱導率和熱阻(u值)
    根據ASTM C518、JIS A 1412、ISO 8301、DIN 12667


    LSR–塞貝克、電阻和ZT測量
    RT 至1100°C之間測量塞貝克系數、電導率/電阻和優值系數(ZT)
    根據JIS R 1650-1


    HCS–霍爾效應、載流子濃度和塞貝克測量
    電導率/電阻率、載流子密度、載流子遷移率、霍爾常數、塞貝克系數的測量
    在-196°C和700°C之間
    根據ASTM F76-08


    RITA-淬火膨脹法
    鋼材、CCT、CTT、TTT的相圖和相變測量;
    在RT 至1600°C之間快速加熱和冷卻時測量熱膨脹系數(CTE)
    根據ASTM A1033-04


    TFA-薄膜分析儀
    在-160℃~+280℃之間測量薄膜和涂層的熱導率、比熱、電阻率、塞貝克系數和霍爾系數


    TF-LFA薄膜激光導熱儀
    室溫至500℃薄膜和涂層的熱擴散率和熱導率的測量
     


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